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        介電常數(shù)介質(zhì)損耗測試儀,介電常數(shù)測試儀

        型 號GDAT-A

        更新時(shí)間2024-11-19

        廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家

        報(bào)價(jià)

        產(chǎn)品描述:介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法

        產(chǎn)品概述

         

        介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀滿足標(biāo)準(zhǔn):GBT 1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法


        二、介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀技術(shù)指標(biāo)
          1.Q值測量
         a.Q值測量范圍:2~1023。
         b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔。
        c.標(biāo)稱誤差
        頻率范圍:20kHz~10MHz;
                固有誤差:≤5%±滿度值的2%;
                        工作誤差:≤7%±滿度值的2%;
                                頻率范圍:10MHz~60MHz;
                                        固有誤差:≤6%±滿度值的2%;
                                                工作誤差:≤8%±滿度值的2%。
        2.電感測量范圍:14.5nH~8.14H
        3.電容測量:1~ 460
         直接測量范圍:1~460pF
        主電容調(diào)節(jié)范圍:準(zhǔn)確度30~500pF;150pF以下±1.5pF;150pF以上±1%

           注:大于直接測量范圍的電容測量見使用規(guī)則
           4.介電常數(shù)介質(zhì)損耗試驗(yàn)儀信號源頻率覆蓋范圍

        頻率范圍:10kHz~50MHz
        頻率分段:(虛擬)10~99.9999kHz;100~999.999kHz;1~9.99999MHz;10~60MHz     

        頻率指示誤差:3×10-5±1個(gè)字
        5.Q合格指示預(yù)置功能

         預(yù)置范圍:5~1000。

         

        介電常介質(zhì)損耗測試儀操作步驟:

        介電常數(shù)Σ的測試
        a. 再松開二極片,把被測樣品插入二極片之間,調(diào)節(jié)平板電容器,到二極片夾住樣品止(注意調(diào)節(jié)時(shí)    要用測微桿,以免夾得過緊或過松),這時(shí)能讀取的測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值,既是樣品的厚度D2。改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表處于諧振點(diǎn)上。
        b. 取出平板電容器中的樣品,這時(shí)Q 表又失諧,此時(shí)調(diào)節(jié)平板電容器,使Q 表再回到諧振點(diǎn)上,讀取測試裝置液晶顯示屏上的數(shù)值記為D4
        c. 計(jì)算被測樣品的介電常數(shù):
                                 Σ=D2 / D4
        5.介質(zhì)損耗系數(shù)的測試
        a. 重新把測試裝置上的夾具插頭插入到Q 表測試回路的“電容”兩個(gè)端上。把被測樣品插入二極片之間,改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表處于諧振點(diǎn)上,讀得Q 值,記為Q2。電容讀數(shù)記為C2。
        b. 取出平板電容器中的樣品,這時(shí)Q 表又失諧,再改變Q 表上的主調(diào)電容容量,使Q 表重新處于諧振點(diǎn)上。讀得Q 值,記為Q1。電容讀數(shù)記為C1。
        c. 然后取下測試裝置,再改變Q 表上的主調(diào)電容容量,重新使之諧振,電容讀數(shù)記為C3,此時(shí)可計(jì)算得到測試裝置的電容為CZ = C3 -C1
        d. 計(jì)算被測樣品的介質(zhì)損耗系數(shù)

        ?
        ? ?
        式中:CZ 為測試裝置的電容(平板電容器二極片間距為樣品的厚度D2)
        C0 為測試電感的分布電容(參考LKI-1 電感組的分布電容值)

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